IT8701P 多路輸入可編程直流電子負載  

IT8701P 多路輸入可編程直流電子負載

IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負載在IT8700的基礎上進行了改良并升級，繼承了原有可抽換式模塊化的設計，單機框可達8個通道，擴展機框可達16通道。用戶可根據(jù)需求在8款負載模組中自由選配。同時配備了前/后端子，更符合用戶多樣化的測試需求。
IT8700P保留了IT8700斜率可調(diào)和list帶載波形編輯的功能，新增了電流上限、PLC設置以及CV環(huán)路速度可調(diào)功能，用戶可以在新升級的7種操作模式下設定自動測試功能，方便研發(fā)及生產(chǎn)線上的快速精確測試。同時，IT8700P系列具有自我診斷過電壓、過電流、過功率、過溫度等保護功能，防止由于誤操作或環(huán)境因素導致的儀器受損或人身傷害。

產(chǎn)品特點

? 抽換式模組，可自由搭配所需的測試方案;
? 雙通道模塊可同時顯示每一通道數(shù)據(jù)無需切換
? 單個機框可達8個通道，擴展機框可達16通道;
? 雙通道負載模塊具有動態(tài)功率分配功能，大幅節(jié)約設備成本
? 前/后接線端子任意選擇
? 用戶可以自行定制模組左右順序
? 8種操作模式：CC/CV/CR/CW/CV+CC/CR+CC/CW+CC/CV+CR(CR-LED)
? CV環(huán)路速度可調(diào)，匹配不同電源
? 高達0.1mV/0.01mA的解析度和高精度
? 具有短路峰值電流和峰值電壓的測量功能
? 電壓、電流測量速度可達50kHz
? 可調(diào)整電流上升/下降斜率
? 在List模式下，可模擬各種帶載波形
? 高達25kHz的動態(tài)模式，100kHz的List模式設置速度
? 自動測試功能，可自動判定測試結(jié)果是否有超出設定規(guī)格
? 可同步執(zhí)行多組電子負載模組拉載
? OVP/OCP/OPP/OTP/防反接保護功能
? 內(nèi)置Ether Net/USB/RS232通信接口

產(chǎn)品功能與優(yōu)勢

前/后端子任選，滿足多樣選擇

IT8700P同時配備前/ 后接線端子，前/后面板均可以接線測試，滿足用戶多樣話的測試需求，同時也避免了操作失誤，提高了測試效率。同時，IT8700P 僅為4U 高度，使得產(chǎn)品更符合上標準機柜需求，加大了系統(tǒng)集成的兼容性。

八種工作模式

IT8700P系列在原有CC/CV/CR/CW四種基本操作模式基礎上新增了4種復合式操作模式：CV+CC/CR+CC/CW+CC/CV+CR(CR-LED), 在CV/CR/CW定態(tài)操作模式下增加了CC限流值(I-Limit)的設定，可幫助工程師有效解決應用中瞬時突波電流的問題，避免待測物觸發(fā)保護甚至燒壞等情況，可適應多種場合的測試需求。

可自由配置的模組化系統(tǒng)結(jié)構

IT8700P系列采用可抽換模組式設計，用戶可根據(jù)需要自由選配模組。而且每個負載模組和主控模組單元之中都具有高性能微處理芯片。它們之間采用平行架構，因此具有高測試速度。負載模組之間由系統(tǒng)同步控制，也可以同步測試具有多路輸出的電源。

動態(tài)功率分配模式

雙通道IT8700P系列，具有動態(tài)功率分配功能，在測試應用中可以大大節(jié)約購買設備的成本。IT8700P系列模塊在總功率不超過300W，單通道不超過250W的前提下，功率可以自由分配給兩個通道使用，而不是傳統(tǒng)意義上的限定了通道功率分配，使用者可根據(jù)測試需求，將模塊內(nèi)兩路負載功率調(diào)整為所需的功率配比，讓負載功率利用率達到最佳點。例如當您需要130W+170W或者50W+250W雙路負載時,IT8700P系列僅需單個模組即可完成。

順序功能(List)，高達100kHz

相比較于動態(tài)模式，LIST模式讓您可以高速完成復雜的任意電流變化模式，而不是簡單的雙準位的變化，IT8700P系列電子負載具有的LIST模式，較其他負載更可以真實的完成多準位帶載的精密測試，內(nèi)建的波形產(chǎn)生器在LIST模式下可仿真各種帶載波形，并且IT8700P系列可儲存55X7組順序文件，供使用者模擬各種不同的真實拉載狀況。此外，每一模組都可獨立操作或同步操作，因此每個模組可獨立執(zhí)行各自時序，并一起同步開始工作。

應用——拉載測試

實際測試時，廠家會有較多的電流不同時的拉載測試要求，如：在滿量程電流的25%、50%、75%、100%時，來觀察電壓波動的值是否在設計范圍內(nèi)。IT8700P系列電子負載可以模擬產(chǎn)品在工作中遇到的各種復雜環(huán)境時的狀態(tài)，以此來分析產(chǎn)品的性能進而改善。特別適用于電子產(chǎn)品開發(fā)，生產(chǎn)線產(chǎn)品老化，質(zhì)量檢驗等復雜應用環(huán)境。